
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 6: Storage at high temperature (Endorsed by Asociación Espanola de Normalización in July of 2017.)
NORMA vydána dne 1.7.2017
Označení normy: UNE-EN 60749-6:2017
Datum vydání normy: 1.7.2017
Počet stran: 16
Přibližná hmotnost: 48 g (0.11 liber)
Země: Španělská technická norma
Kategorie: Technické normy UNE