
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 6: Storage at high temperature
NORMA vydána dne 30.5.2003
Označení normy: UNE-EN 60749-6:2003
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 30.5.2003
Počet stran: 15
Přibližná hmotnost: 45 g (0.10 liber)
Země: Španělská technická norma
Kategorie: Technické normy UNE