UNE-EN 60749-5:2017

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test (Endorsed by Asociación Espanola de Normalización in August of 2017.)

NORMA vydána dne 1.8.2017

Anglicky -
Elektronické PDF (1145.20 CZK)
Anglicky -
Tištěné (1259.70 CZK)

Informace o normě:

Označení normy: UNE-EN 60749-5:2017
Datum vydání normy: 1.8.2017
Počet stran: 19
Přibližná hmotnost: 57 g (0.13 liber)
Země: Španělská technická norma
Kategorie: Technické normy UNE