UNE-EN 60749-5:2003

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test

NORMA vydána dne 21.11.2003

Anglicky -
Elektronické PDF (1427.10 CZK)

Anglicky -

Tištěné (1570.30 CZK)

Španělsky -

Elektronické PDF (1189.20 CZK)

Španělsky -

Tištěné (1308.20 CZK)

The information about the standard:

Designation standards: UNE-EN 60749-5:2003
Note: NEPLATNÁ
Publication date standards: 21.11.2003
The number of pages: 21
Approximate weight : 63 g (0.14 lbs)
Country: Spanish technical standard
Kategorie: Technické normy UNE