UNE-EN 60749-5:2003

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test

NORMA vydána dne 21.11.2003

Anglicky -
Elektronické PDF (1209.80 CZK)

Anglicky -

Tištěné (1330.70 CZK)

Španělsky -

Elektronické PDF (1209.80 CZK)

Španělsky -

Tištěné (1330.70 CZK)

Informace o normě:

Označení normy: UNE-EN 60749-5:2003
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 21.11.2003
Počet stran: 21
Přibližná hmotnost: 63 g (0.14 liber)
Země: Španělská technická norma
Kategorie: Technické normy UNE