Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 40: Board level drop test method using a strain gauge (Endorsed by AENOR in November of 2011.)
NORMA vydána dne 1.11.2011
Označení normy: UNE-EN 60749-40:2011
Datum vydání normy: 1.11.2011
Počet stran: 26
Přibližná hmotnost: 78 g (0.17 liber)
Země: Španělská technická norma
Kategorie: Technické normy UNE