Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 4: Damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST) (Endorsed by Asociación Espanola de Normalización in July of 2017.)
NORMA vydána dne 1.7.2017
Označení normy: UNE-EN 60749-4:2017
Datum vydání normy: 1.7.2017
Počet stran: 19
Přibližná hmotnost: 57 g (0.13 liber)
Země: Španělská technická norma
Kategorie: Technické normy UNE