UNE-EN 60749-4:2003

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 4: Damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST)

NORMA vydána dne 30.5.2003

Informace o normě:

Označení normy: UNE-EN 60749-4:2003
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 30.5.2003
Počet stran: 22
Přibližná hmotnost: 66 g (0.15 liber)
Země: Španělská technická norma
Kategorie: Technické normy UNE