UNE-EN 60749-4:2003

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 4: Damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST)

NORMA vydána dne 30.5.2003

Anglicky -
Elektronické PDF (1461.30 CZK)

Anglicky -

Tištěné (1607.40 CZK)

Španělsky -

Elektronické PDF (1217.80 CZK)

Španělsky -

Tištěné (1339.50 CZK)

The information about the standard:

Designation standards: UNE-EN 60749-4:2003
Note: NEPLATNÁ
Publication date standards: 30.5.2003
The number of pages: 22
Approximate weight : 66 g (0.15 lbs)
Country: Spanish technical standard
Kategorie: Technické normy UNE