Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 37: Board level drop test method using an accelerometer (Endorsed by AENOR in July of 2008.)
NORMA vydána dne 17.11.2025
Označení normy: UNE-EN 60749-37:2008
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 17.11.2025
Počet stran: 23
Přibližná hmotnost: 69 g (0.15 liber)
Země: Španělská technická norma
Kategorie: Technické normy UNE