UNE-EN 60749-3:2003

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 3: External visual examination

NORMA vydána dne 30.5.2003

Anglicky -
Elektronické PDF (915.70 CZK)

Anglicky -

Tištěné (1008.30 CZK)

Španělsky -

Elektronické PDF (764.70 CZK)

Španělsky -

Tištěné (840.20 CZK)

Informace o normě:

Označení normy: UNE-EN 60749-3:2003
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 30.5.2003
Počet stran: 14
Přibližná hmotnost: 42 g (0.09 liber)
Země: Španělská technická norma
Kategorie: Technické normy UNE