UNE-EN 60749-3:2003

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 3: External visual examination

NORMA vydána dne 30.5.2003

Anglicky -
Elektronické PDF (798.60 CZK)

Anglicky -

Tištěné (878.80 CZK)

Španělsky -

Elektronické PDF (665.10 CZK)

Španělsky -

Tištěné (733.10 CZK)

The information about the standard:

Designation standards: UNE-EN 60749-3:2003
Note: NEPLATNÁ
Publication date standards: 30.5.2003
The number of pages: 14
Approximate weight : 42 g (0.09 lbs)
Country: Spanish technical standard
Kategorie: Technické normy UNE