Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 27: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Machine model (MM) (Endorsed by AENOR in January of 2013.)
NORMA vydána dne 1.1.2013
Označení normy: UNE-EN 60749-27:2006/A1:2012
Poznámka: Změna
Datum vydání normy: 1.1.2013
Počet stran: 11
Přibližná hmotnost: 33 g (0.07 liber)
Země: Španělská technická norma
Kategorie: Technické normy UNE