
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods
NORMA vydána dne 15.11.2000
Označení normy: UNE-EN 60749:2000
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 15.11.2000
Počet stran: 114
Přibližná hmotnost: 373 g (0.82 liber)
Země: Španělská technická norma
Kategorie: Technické normy UNE