
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 20: Resistance of plastic encapsulated SMDs to the combined effect of moisture and soldering heat
NORMA vydána dne 6.10.2023
Označení normy: UNE-EN 60749-20:2009
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 6.10.2023
Počet stran: 31
Přibližná hmotnost: 93 g (0.21 liber)
Země: Španělská technická norma
Kategorie: Technické normy UNE