UNE-EN 60749-18:2003

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 18: Ionizing radiation (total dose)

NORMA vydána dne 21.11.2003

Anglicky -
Elektronické PDF (1805.80 CZK)

Anglicky -

Tištěné (1986.20 CZK)

Španělsky -

Elektronické PDF (1503.60 CZK)

Španělsky -

Tištěné (1654.70 CZK)

Informace o normě:

Označení normy: UNE-EN 60749-18:2003
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 21.11.2003
Počet stran: 34
Přibližná hmotnost: 102 g (0.22 liber)
Země: Španělská technická norma
Kategorie: Technické normy UNE