Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 17: Neutron irradiation
NORMA vydána dne 21.11.2003
Označení normy: UNE-EN 60749-17:2003
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 21.11.2003
Počet stran: 18
Přibližná hmotnost: 54 g (0.12 liber)
Země: Španělská technická norma
Kategorie: Technické normy UNE