UNE-EN 60749-16:2003

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Part 16: Particle impact noise detection (PIND)

NORMA vydána dne 21.11.2003

Anglicky -
Elektronické PDF (1136.90 CZK)

Anglicky -

Tištěné (1250.60 CZK)

Španělsky -

Elektronické PDF (1136.90 CZK)

Španělsky -

Tištěné (1250.60 CZK)

The information about the standard:

Designation standards: UNE-EN 60749-16:2003
Publication date standards: 21.11.2003
The number of pages: 20
Approximate weight : 60 g (0.13 lbs)
Country: Spanish technical standard
Kategorie: Technické normy UNE