Skúška vplyvu teploty na stabilitu poľom riadených tranzistorov s hradlom izolovaným oxidom (MOSFET) (Norma na priame používanie ako STN).
NORMA vydána dne 1.5.2007
Označení normy: STN EN 62373
Třídící znak: 358794
Katalogové číslo: 103447
Datum vydání normy: 1.5.2007
Počet stran: 20
Přibližná hmotnost: 60 g (0.13 liber)
Země: Slovenská technická norma
Kategorie: Technické normy STN