Measurement of Radiated Emissions from Integrated Circuits—TEM/Wideband TEM (GTEM) Cell Method; TEM Cell (150 kHz to 1 GHz), Wideband TEM Cell (150 kHz to 8 GHz)
NORMA vydána dne 1.1.2003
Označení normy: SAE J1752/3
Poznámka: Neaktuální
Datum vydání normy: 1.1.2003
Země: Americká technická norma
Kategorie: Technické normy SAE