SAE J1752/2

Measurement of Radiated Emissions from Integrated Circuits—Surface Scan Method (Loop Probe Method) 10 MHz to 3 GHz

NORMA vydána dne 1.1.2003

Informace o normě:

Označení normy: SAE J1752/2
Poznámka: Neaktuální
Datum vydání normy: 1.1.2003
Země: Americká technická norma
Kategorie: Technické normy SAE