
Metallische und andere anorganische Schichten - Messung von Schichtdicken - Fizeau-Vielstrahl-Interferenz-Verfahren (ISO 3868:1976)
NORMA vydána dne 1.2.1995
Označení normy: ÖNORM EN ISO 3868
Datum vydání normy: 1.2.1995
Počet stran: 10
Přibližná hmotnost: 30 g (0.07 liber)
Země: Rakouská technická norma
Kategorie: Technické normy ÖNORM
Diese Internationale Norm legt ein Verfahren zur Messung der Schichtdicke von dünnen, stark reflektierenden Überzügen (bis 2 p) durch Anwendung des Vielstrahl- Interferenz-Verfahrens nach Fizeau fest. Das beschriebene Verfahren kann nicht auf Überzügen aus Glasemai 1 angewendet werden.