
Hochleistungskeramik - Bestimmung der Dicke keramischer Schichten mit einem Kontaktprofilometer (ISO 18452:2005)
NORMA vydána dne 1.11.2016
Designation standards: ÖNORM EN ISO 18452
Publication date standards: 1.11.2016
The number of pages: 15
Approximate weight : 45 g (0.10 lbs)
Country: Austrian technische Norm
Kategorie: Technické normy ÖNORM
Diese Internationale Norm legt ein Verfahren zur Bestimmung der Schichtdicke feinkeramischer Schichten und keramischer Schichten mit einem Kontaktprofilometer fest. Das Verfahren ist für Schichtdicken im Bereich von 10 nm bis 10 000 nm geeignet.