ÖNORM EN 14784-1

Annotation of standard text ÖNORM EN 14784-1 :

In dieser Norm werden für Systeme der Computer-Radiographie die grundlegenden Parameter mit dem Ziel festgelegt, auf wirtschaftliche Art und Weise zufriedenstellende und wiederholbare Ergebnisse zu erreichen. Die Techniken basieren sowohl auf den grundlegenden Theorien als auch auf Testmessungen. Es werden die Leistungsfähigkeit von Systemen der Computer-Radiographie (CR-Systeme) sowie die Messung der entsprechenden Parameter des zugehörigen Abtastsystems und der Speicherfolie (IP) spezifiziert. Für diese Systeme wird eine Klassifizierung in Kombination mit festgelegten Metallfolien für die industrielle Durchstrahlungsprüfung beschrieben. Durch diese Norm soll sichergestellt werden, dass die Bildgüte, soweit sie von der Kombination aus Speicherfolie und Abtastsystem beeinflusst wird, den Anforderungen von Teil 2 dieser Norm entspricht. Die vorliegende Norm bezieht sich auf die Anforderungen an Filmsysteme für Durchstrahlungsprüfungen, die in EN 584-1 und ISO 11699-1 definiert werden. In dieser Norm werden Systemtests unterschiedlichen Aufwandes festgelegt. Es werden sowohl kompliziertere Tests (sogenannte Herstellertests), mit denen die Bestimmung exakter Systemparameter möglich ist, als auch einfachere Tests beschrieben, die für den Anwender als Schnelltest zur Ermittlung der Qualität von CR-Systemen und ihrer Langzeitstabilität vorgesehen sind.