
Einkristall-Wafer für Oberflächenwellen-(OFW-)Bauelemente - Festlegungen und Messverfahren ((IEC 62276:2025) EN IEC 62276:2025) (deutsche Fassung)
NORMA vydána dne 1.8.2026
Označení normy: ÖVE EN IEC 62276
Datum vydání normy: 1.8.2026
Počet stran: 46
Přibližná hmotnost: 138 g (0.30 liber)
Země: Rakouská technická norma
Kategorie: Technické normy ÖNORM
Diese Dokument gilt für die Herstellung von Einkristall-Wafern aus synthetischen Quarzkristallen, Lithiumniobat(LN)-, Lithiumtantalat(LT)-, Lithiumtetraborat(LBO)-Kristallen und Lanthanum-Gallium-Silikat (LGS), die für die Verwendung als Substrate bei der Herstellung von Oberflächenwellen-(OFW-)Filtern und Resonatoren vorgesehen sind.