JIS R1637:1998

Test method for resistivity of conductive fine ceramic thin films with a four-point probe array

NORMA vydána dne 31.1.1998

Anglicky -
Elektronické PDF (NA DOTAZ)

Anglicky -

Tištěné (NA DOTAZ)

Japonsky -

Elektronické PDF (NA DOTAZ)

Japonsky -

Tištěné (NA DOTAZ)

Informace o normě:

Označení normy: JIS R1637:1998
Datum vydání normy: 31.1.1998
Počet stran: 4
Přibližná hmotnost: 12 g (0.03 liber)
Země: Ostatní normy
Kategorie: Technické normy JIS