Test method for thickness of fine ceramic thin films -- Film thickness by contact probe profilometer
NORMA vydána dne 31.1.1998
Označení normy: JIS R1636:1998
Datum vydání normy: 31.1.1998
Počet stran: 6
Přibližná hmotnost: 18 g (0.04 liber)
Země: Ostatní normy
Kategorie: Technické normy JIS