JIS R1636:1998

Test method for thickness of fine ceramic thin films -- Film thickness by contact probe profilometer

NORMA vydána dne 31.1.1998

Anglicky -
Elektronické PDF (NA DOTAZ)

Anglicky -

Tištěné (NA DOTAZ)

Japonsky -

Elektronické PDF (NA DOTAZ)

Japonsky -

Tištěné (NA DOTAZ)

The information about the standard:

Designation standards: JIS R1636:1998
Publication date standards: 31.1.1998
The number of pages: 6
Approximate weight : 18 g (0.04 lbs)
Country: Other standards
Kategorie: Technické normy JIS