JIS K0169:2012

Surface chemical analysis -- Secondary-ion mass spectrometry (SIMS) -- Method for estimating depth resolution parameters with multiple delta-layer reference materials

NORMA vydána dne 20.4.2012

Japonsky -
Elektronické PDF (NA DOTAZ)

Japonsky -

Tištěné (NA DOTAZ)

Informace o normě:

Označení normy: JIS K0169:2012
Datum vydání normy: 20.4.2012
Počet stran: 8
Přibližná hmotnost: 24 g (0.05 liber)
Země: Ostatní normy
Kategorie: Technické normy JIS