NORMSERVIS s.r.o.

JIS K0149-1:2019

Microbeam analysis -- Scanning electron microscopy -- Guidelines for calibrating image magnification

NORMA vydána dne 20.11.2019

Japonsky -
Elektronické PDF (NA DOTAZ)
Japonsky -
Tištěné (NA DOTAZ)

Informace o normě:

Označení normy: JIS K0149-1:2019
Datum vydání normy: 20.11.2019
Počet stran: 18
Přibližná hmotnost: 54 g (0.12 liber)
Země: Ostatní normy
Kategorie: Technické normy JIS