NORMSERVIS s.r.o.

JIS H0613:1978

Visual inspection for sliced and lapped silicon wafers

NORMA vydána dne 5.1.1978

Japonsky -
Elektronické PDF (NA DOTAZ)
Japonsky -
Tištěné (NA DOTAZ)

Informace o normě:

Označení normy: JIS H0613:1978
Datum vydání normy: 5.1.1978
Počet stran: 4
Přibližná hmotnost: 12 g (0.03 liber)
Země: Ostatní normy
Kategorie: Technické normy JIS