Measuring of minority-carrier lifetime in silicon single crystal by photoconductive decay method
NORMA vydána dne 31.7.1995
Označení normy: JIS H0604:1995
Datum vydání normy: 31.7.1995
Počet stran: 6
Přibližná hmotnost: 18 g (0.04 liber)
Země: Ostatní normy
Kategorie: Technické normy JIS