NORMSERVIS s.r.o.

JIS C5630-3:2009

Semiconductor devices -- Micro-electromechanical devices-- Part 3: Thin film standard test piece for tensile testing

NORMA vydána dne 20.3.2009

Japonsky -
Elektronické PDF (NA DOTAZ)
Japonsky -
Tištěné (NA DOTAZ)

Informace o normě:

Označení normy: JIS C5630-3:2009
Datum vydání normy: 20.3.2009
Počet stran: 6
Přibližná hmotnost: 18 g (0.04 liber)
Země: Ostatní normy
Kategorie: Technické normy JIS