NORMSERVIS s.r.o.

JIS C5630-2:2009

Semiconductor devices -- Micro-electromechanical devices-- Part 2: Tensile testing method of thin film materials

NORMA vydána dne 20.3.2009

Japonsky -
Elektronické PDF (NA DOTAZ)
Japonsky -
Tištěné (NA DOTAZ)

Informace o normě:

Označení normy: JIS C5630-2:2009
Datum vydání normy: 20.3.2009
Počet stran: 10
Přibližná hmotnost: 30 g (0.07 liber)
Země: Ostatní normy
Kategorie: Technické normy JIS