JIS C2162:2010

Test method of long-term reliability of gate insulator for SiC devices at high temperature

NORMA vydána dne 23.3.2010

Anglicky -
Elektronické PDF (NA DOTAZ)

Anglicky -

Tištěné (NA DOTAZ)

Japonsky -

Elektronické PDF (NA DOTAZ)

Japonsky -

Tištěné (NA DOTAZ)

The information about the standard:

Designation standards: JIS C2162:2010
Publication date standards: 23.3.2010
The number of pages: 9
Approximate weight : 27 g (0.06 lbs)
Country: Other standards
Kategorie: Technické normy JIS