American National Standard for Evaluating the Image Quality of X-ray Computed Tomography (CT)Security-Screening Systems
NORMA vydána dne 23.5.2011
Označení normy: IEEE N42.45-2011
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 23.5.2011
Přibližná hmotnost: 300 g (0.66 liber)
Země: Mezinárodní technická norma
Kategorie: Technické normy IEEE