IEEE C62.35-2010/Cor 1-2018

IEEE Standard Test Methods for Avalanche Junction Semiconductor Surge-Protective Device Components--Corrigendum 1

NORMA vydána dne 12.12.2018

Anglicky -
Zabezpečené PDF - okamžité stažení (22.30 CZK)

Informace o normě:

Označení normy: IEEE C62.35-2010/Cor 1-2018
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 12.12.2018
Přibližná hmotnost: 300 g (0.66 liber)
Země: Mezinárodní technická norma
Kategorie: Technické normy IEEE