IEEE Standard Test Methods for Avalanche Junction Semiconductor Surge-Protective Device Components
NORMA vydána dne 31.8.2010
Označení normy: IEEE C62.35-2010
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 31.8.2010
Počet stran: 26
Přibližná hmotnost: 78 g (0.17 liber)
Země: Mezinárodní technická norma
Kategorie: Technické normy IEEE