IEEE 759-1984

IEEE Standard Test Procedures for Semiconductor X-Ray Energy Spectrometers

NORMA vydána dne 15.12.1984

Anglicky -
Zabezpečené PDF - okamžité stažení (2939.40 CZK)

Informace o normě:

Označení normy: IEEE 759-1984
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 15.12.1984
Přibližná hmotnost: 300 g (0.66 liber)
Země: Mezinárodní technická norma
Kategorie: Technické normy IEEE