IEEE 300-1988

IEEE Standard Test Procedures for Semiconductor Charged-Particle Detectors

NORMA vydána dne 29.12.1988

Anglicky -
Zabezpečené PDF - okamžité stažení (4042.10 CZK)

The information about the standard:

Designation standards: IEEE 300-1988
Note: NEPLATNÁ
Publication date standards: 29.12.1988
Approximate weight : 300 g (0.66 lbs)
Country: International technical standard
Kategorie: Technické normy IEEE