IEEE Standard Test Procedures for Semiconductor Charged-Particle Detectors
NORMA vydána dne 29.12.1988
Označení normy: IEEE 300-1988
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 29.12.1988
Přibližná hmotnost: 300 g (0.66 liber)
Země: Mezinárodní technická norma
Kategorie: Technické normy IEEE