IEEE 300-1969

USA Standard and IEEE Test Procedure for Semiconductor Radiation Detectors (For Ionizing Radiation)

NORMA vydána dne 30.11.1968

Anglicky -
Zabezpečené PDF - okamžité stažení (1158.70 CZK)

Informace o normě:

Označení normy: IEEE 300-1969
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 30.11.1968
Přibližná hmotnost: 300 g (0.66 liber)
Země: Mezinárodní technická norma
Kategorie: Technické normy IEEE