IEEE 256-1963

IEEE Test Procedure for Semiconductor Diodes

NORMA vydána dne 20.12.1963

Anglicky -
Zabezpečené PDF - okamžité stažení (1158.70 CZK)

The information about the standard:

Designation standards: IEEE 256-1963
Note: NEPLATNÁ
Publication date standards: 20.12.1963
Approximate weight : 300 g (0.66 lbs)
Country: International technical standard
Kategorie: Technické normy IEEE