IEEE 256-1963

IEEE Test Procedure for Semiconductor Diodes

NORMA vydána dne 20.12.1963

Anglicky -
Zabezpečené PDF - okamžité stažení (1196.70 CZK)

Informace o normě:

Označení normy: IEEE 256-1963
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 20.12.1963
Přibližná hmotnost: 300 g (0.66 liber)
Země: Mezinárodní technická norma
Kategorie: Technické normy IEEE