
IEEE Standard for Test Methods for the Characterization of Organic Transistors and Materials
NORMA vydána dne 5.12.2008
Označení normy: IEEE 1620-2008
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 5.12.2008
Přibližná hmotnost: 300 g (0.66 liber)
Země: Mezinárodní technická norma
Kategorie: Technické normy IEEE