
Standard for Test Methods for the Characterization of Organic Transistors and Materials
NORMA vydána dne 29.4.2004
Označení normy: IEEE 1620-2004
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 29.4.2004
Přibližná hmotnost: 300 g (0.66 liber)
Země: Mezinárodní technická norma
Kategorie: Technické normy IEEE