
IEEE Standard for the Common Test Interface Pin Map Configuration for High-Density, Single-Tier Electronics Test Requirements Utilizing IEEE Std 1505
NORMA vydána dne 1.8.2013
Označení normy: IEEE 1505.1-2008
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 1.8.2013
Přibližná hmotnost: 300 g (0.66 liber)
Země: Mezinárodní technická norma
Kategorie: Technické normy IEEE