
IEEE Recommended Practice for Latchup Test Methods for CMOS and BiCMOS Integrated- Circuit Process Characterization
NORMA vydána dne 13.12.1991
Označení normy: IEEE 1181-1991
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 13.12.1991
Přibližná hmotnost: 300 g (0.66 liber)
Země: Mezinárodní technická norma
Kategorie: Technické normy IEEE