
IEEE Standard for Reduced-Pin and Enhanced-Functionality Test Access Port and Boundary-Scan Architecture
NORMA vydána dne 10.2.2010
Označení normy: IEEE 1149.7-2009
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 10.2.2010
Přibližná hmotnost: 300 g (0.66 liber)
Země: Mezinárodní technická norma
Kategorie: Technické normy IEEE