IEC/TR 63133-ed.1.0

Semiconductor devices - Scan based ageing level estimation for semiconductor devices

NORMA vydána dne 11.10.2017

Anglicky -
Elektronické PDF (3613.70 CZK)

Anglicky -

Tištěné (3613.70 CZK)

Anglicky -

CD-ROM (3652.90 CZK)

Informace o normě:

Označení normy: IEC/TR 63133-ed.1.0
Datum vydání normy: 11.10.2017
Počet stran: 17
Přibližná hmotnost: 51 g (0.11 liber)
Země: Mezinárodní technická norma
Kategorie: Technické normy IEC

Anotace textu normy IEC/TR 63133-ed.1.0 :

IEC TR 63133:2017(E) specifies a design technique of performance estimation storage element, which can monitor semiconductor ageing and characterize ageing level. The estimated ageing level can be used to improve the reliability of system.