Device embedded substrate - Part 2-2: Guidelines - Electrical testing
NORMA vydána dne 4.12.2015
Označení normy: IEC/TR 62878-2-2-ed.1.0
Datum vydání normy: 4.12.2015
Počet stran: 29
Přibližná hmotnost: 87 g (0.19 liber)
Země: Mezinárodní technická norma
Kategorie: Technické normy IEC
IEC TR 62878-2-2:2015 describes the necessary information on electrical testing for device embedded substrate. This includes the interconnection open- and short-circuit tests as well as the device functional test. It also provides guidelines by demonstrating the electrical test for device embedded substrate. LIEC 62878-2-2:2015 decrit les informations necessaires aux essais electriques de substrat avec appareil(s) integre(s). Elle decrit en outre les essais dinterconnexion en circuit ouvert et en court-circuit et lessai fonctionnel de lappareil. Elle fournit egalement des directives de demonstration des essais electriques de substrat avec appareil(s) integre(s).