IEC/TR 62433-4-1-ed.1.0

EMC IC modelling - Part 4-1: Use of ICIM-CI model to predict the IC conducted immunity in a PCB

NORMA vydána dne 26.8.2025

Anglicky -
Elektronické PDF (8026.50 CZK)

Anglicky -

Tištěné (8026.50 CZK)

Anglicky -

CD-ROM (8065.10 CZK)

Informace o normě:

Označení normy: IEC/TR 62433-4-1-ed.1.0
Datum vydání normy: 26.8.2025
Počet stran: 40
Přibližná hmotnost: 120 g (0.26 liber)
Země: Mezinárodní technická norma
Kategorie: Technické normy IEC

Anotace textu normy IEC/TR 62433-4-1-ed.1.0 :

IEC TR 62433-4-1:2025 provides an overview of good practices to extract an ICIM-CI model from measurements and to build a numerical model of the PCB in which the ICIM-CI model is used to predict RF immunity of an IC in its application PCB. This document also discusses factors which can be considered to obtain proper results in an ICIM-CI model extraction and use of the actual model at the PCB level.