NORMSERVIS s.r.o.

IEC 63287-4-ed.1.0

Semiconductor devices - Guidelines for reliability qualification plans - Part 4: Early failure assessment

NORMA vydána dne 28.8.2026

Anglicky -
Elektronické PDF (2463.90 CZK)

Anglicky -
Tištěné (2463.90 CZK)

Anglicky -
CD-ROM (2502.40 CZK)




Francouzsky -
Tištěné (2463.90 CZK)

Anglicky a francouzsky -
Elektronické PDF (2463.90 CZK)

Anglicky a francouzsky -
Tištěné (2463.90 CZK)

Informace o normě:

Označení normy: IEC 63287-4-ed.1.0
Datum vydání normy: 28.8.2026
Počet stran: 15
Přibližná hmotnost: 45 g (0.10 liber)
Země: Mezinárodní technická norma
Kategorie: Technické normy IEC

Anotace textu normy IEC 63287-4-ed.1.0 :

IEC 63287-4:2026 gives guidelines for the development of reliability qualification plans using the early failure assessment, based on the environmental conditioning and proposed usage of the product. This document is not intended for military- and space-related applications. L’IEC 63287-4:2026 fournit des lignes directrices pour lelaboration de plans de qualification de la fiabilite qui utilisent levaluation des defaillances precoces, sur la base des conditions environnementales et de l’utilisation prevue du produit. Le present document n’est pas destine aux applications militaires et spatiales.