IEC 62899-503-1-ed.1.0

Printed electronics - Part 503-1: Quality assessment - Test method of displacement current measurement for printed thin-film transistor

NORMA vydána dne 27.5.2020

Anglicky -
Elektronické PDF (2540.80 CZK)

Anglicky -

Tištěné (2540.80 CZK)

Anglicky -

CD-ROM (2580.50 CZK)

Informace o normě:

Označení normy: IEC 62899-503-1-ed.1.0
Datum vydání normy: 27.5.2020
Počet stran: 15
Přibližná hmotnost: 45 g (0.10 liber)
Země: Mezinárodní technická norma
Kategorie: Technické normy IEC

Anotace textu normy IEC 62899-503-1-ed.1.0 :

IEC 62899-503-1:2020(E) specifies a test method for displacement current measurement (DCM) for printed thin film transistors (TFTs) or organic thin film transistors (OTFTs).