IEC 62415-ed.1.0

Semiconductor devices - Constant current electromigration test

NORMA vydána dne 19.5.2010

Anglicky a francouzsky -
Elektronické PDF (1271.30 CZK)

Anglicky a francouzsky -

Tištěné (1271.30 CZK)

Anglicky a francouzsky -

CD-ROM (1311.00 CZK)

Informace o normě:

Označení normy: IEC 62415-ed.1.0
Datum vydání normy: 19.5.2010
Počet stran: 22
Přibližná hmotnost: 66 g (0.15 liber)
Země: Mezinárodní technická norma
Kategorie: Technické normy IEC

Anotace textu normy IEC 62415-ed.1.0 :

IEC 62415:2010 describes a method for conventional constant current electromigration testing of metal lines, via string and contacts. La CEI 62415:2010 decrit une methode pour des essais conventionnels delectromigration en courant constant de lignes metalliques, de chaines de trous de liaison et de contacts de trous de liaison.