IEC 62374-ed.1.0

Semiconductor devices - Time dependent dielectric breakdown (TDDB) test for gate dielectric films

NORMA vydána dne 29.3.2007

Anglicky a francouzsky -
Elektronické PDF (4927.10 CZK)

Anglicky a francouzsky -

Tištěné (4927.10 CZK)

Anglicky a francouzsky -

CD-ROM (4966.90 CZK)

Informace o normě:

Označení normy: IEC 62374-ed.1.0
Datum vydání normy: 29.3.2007
Počet stran: 43
Přibližná hmotnost: 129 g (0.28 liber)
Země: Mezinárodní technická norma
Kategorie: Technické normy IEC

Anotace textu normy IEC 62374-ed.1.0 :

Provides a test method of Time Dependent Dielectric Breakdown (TDDB) for gate dielectric films on semiconductor devices and a product lifetime estimation method of TDDB failure Cette norme decrit une methode d essai de la rupture dielectrique en fonction du temps (TDDB) pour films dielectriques de grille des dispositifs a semiconducteurs et une methode d estimation de la duree de vie de produit en presence d unedefaillance de type TDDB.